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- OPTM 系列顯微分光膜厚儀
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。
- 型號：
- 更新日期：2024-11-28
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